Skip to main navigation menu Skip to main content Skip to site footer
##common.pageHeaderLogo.altText##

Physics and Mathematics

February 6, 2026; Zurich, Switzerland: XI International Scientific and Practical Conference «GRUNDLAGEN DER MODERNEN WISSENSCHAFTLICHEN FORSCHUNG»


ЧУТЛИВИЙ ЕЛЕМЕНТ НОВОГО ТИПУ ДЛЯ ТЕРМОМЕТРУ ОПОРУ


DOI
https://doi.org/10.36074/logos-06.02.2026.034
Published
06.02.2026

Abstract

Температурні, теплотехнічні вимірювання є вкрай важливими  для реалізації безперервного виробничого контролю роботи будь-якого устаткування. Це особливо актуально при проведенні робіт з термічного аудиту приладів електронної техніки, які дозволяють провести дистанційний аналіз і моніторинг параметрів навколишнього середовища.

References

  1. Wu K.С. (2021). Power Electronic System Design. Ed. Elsevier. 405 р. Посилання: eBook ISBN: 9780323885430
  2. Бондар О.І., Тафтай В.В., Фінін Г.С., Шевченко Р.Ю. (2022). Сучасні технології моніторингу довкілля: на прикладі Київської агломерації. ДЕАПОУ Житомир: Рута. 394 c. Посилання: https://repositary.knuba.edu.ua/handle /123456789/11486
  3. Гасій О. Б. (2018). Розвиток технології вакуумного йонно-плазмового напилення та напрями її вдосконалення Науковий вісник НЛТУ України. 28 (10). 85-91. DOI: https://doi.org/10.15421/40281018
  4. Guo J., Yu B., Chen L. (2015) Nondestructive nanofabrication on Si(100) surface by tribochemistryinduced selective etching. Sci. Rep. 5. 16472. DOI: 10.1038/ srep1647
  5. Ковальчук В.В. (2022) Study on Heterophotocell Based on Super-line Photoventil Effect Research Trends and Challenges in Physical Science (7). 26–33. https://doi.org/10.9734/bpi/rtcps/v7/15319D
  6. Kovalchuk V., Popriaha D. (2025). Optical Properties of the Semiconductor Nanoclusters. Technium: Romanian J. Appl. Sciences and Technology. 28. 35–42. https://doi.org/10.47577/technium.v28i.12625
  7. Buckwell M., Wing H.Ng., Hudziak S., Mehonic A., Lanza M., Kenyon A.J. (2019). Improving the consistency of nanoscale etching for atomic force microscopy tomography applications. Front matter: mechanics of materials. 6. 203-205. DOI: https://doi.org/10.3389/fmats.2019.00203.
  8. Іваницький В. П., Рубіш В. М., Тарнай А. А., Чичура І. І., Рубіш В. В., Далекорей А. В., Мешко Р. О., Рябощук М. М., Цигика В. В. (2024). Автоматизація вимірювань швидкості хімічного травлення тонких плівок Реєстрація, зберігання і обробка даних. 26 (2). 81-91. DOI: https://doi.org/10.35681/1560-9189.2024.26.2.316977
  9. Ковальчук В.В., Панченко А.А., Сербов Н.Г. (2015). Вимірювальна система визначення геометричних параметрів нанокластерної підісистеми речовини. Метрологія та прилади. 53(3). 57-62 ISSN 2307-2180 http://www.metpriladi.com/
  10. Kovalchuk V., Popriaha D. (2025). Formation of a nanocluster subsystem of a film heterotransfer Sensor Electronics and Мicrosystem Technologies. 23 (3). 58-64 DOI: https://doi.org/10.18524/1815-7459.2025.3.339805